Shanghái, China
Espectrofotómetro UV/VIS de barrido de haz doble
Sistema óptico: Haz doble, Rendija de 1200 líneas/mm | Gama de longitudes de onda: 190-1100nm | Precisión de longitud de onda: ± 0.3 nm | Repetibilidad de la longitud de onda: ≤ 0.2 nm | Precisión fotométrica: ± ...
Shanghái, China
Shanghái, China
Espectrofotómetro UV/VIS Ancho de banda 2 nm
Sistema óptico: Haz único, rejilla de 1200 líneas/mm | Precisión de longitud de onda: ± 0,5 nm | Repetibilidad de la longitud de onda: ≤ 0.2 nm | Precisión fotométrica: ± 0.002A (0-0.5 Abs), ± 0.004A (0.5-1.0 Abs...
Shanghái, China
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L3 Split Beam 325-1100nm VIS Espectrofotómetro
Fotometría: Rayo dividido | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 160mm | Rejilla: 1200 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la long...
Shanghái, China
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Espectrofotómetro UV VIS de haz dividido L6 190-1100nm
Fotometría: Rayo dividido | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 160mm | Rejilla: 1200 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la long...
Shanghái, China
L8 Doble haz 190-1100nm Espectrofotómetro UV-VIS de escaneo
Fotometría: Doble viga | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 200mm | Rejilla: 1600 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la longitu...
Shanghái, China
Espectrofotómetro UV-VIS de barrido L6S Split Beam 190-1100nm
Fotometría: Rayo dividido | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 160mm | Rejilla: 1200 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la long...
Shanghái, China
Espectrofotómetro UV-VIS de haz único N4 190-1100 nm
Fotometría: Viga única | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 160mm | Rejilla: 1200 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la longitu...
Shanghái, China
Espectrofotómetro UV-VIS de escaneo de haz doble L7 190-1100 nm
Fotometría: Doble viga | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 160mm | Rejilla: 1200 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la longitu...
Shanghái, China
Espectrofotómetro UV-VIS de barrido N4S de haz único 190-1100 nm
Fotometría: Viga única | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 160mm | Rejilla: 1200 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 2nm | Ajuste de la longitu...
Shanghái, China
L9 Doble haz 190-1100nm Espectrofotómetro UV-VIS de barrido de múltiples longitudes de onda
Fotometría: Doble viga | Tipo de monocromador: Czerny-Turner | Distancia focal: 200mm | Rejilla: 1600 líneas/mm | Detector: Celda fotoeléctrica de silicio | Ancho de banda del espectro: 0.5nm/1nm/2nm/4nm/5nm | Aj...
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