Usado Microscopios en Nuevo México, USA

El Microscopio de Tecnología Asociación placa de control de movimiento en excedente de trabajo

• Fabricante: The Technology Partnership

Mpn: Controlador de Movimiento del Microscopio | Número de pieza: Controlador de Movimiento del Microscopio

Instrumentos técnicos 015-00013-AA Microscopio de medición de retículas AMS 310 En estado

• Fabricante: Technical Instruments Company

Nanonics Imaging Topaz NSOM Microscopio de sonda cercana de campo de Topaz NSOM Controller de Microscopio Óptico de Barrido

• Fabricante: Topaz

Número de pieza: Topaz | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa de transferencia bancaria de 25 USD).

Amray 2030C Microscopio Electrónico de Barrido Fuente de Alimentación de CA Chasis Usado

• Fabricante: Amray

Ci: 2 | Mpn: 2030C | Número de pieza: 2030C | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa de transferencia bancaria de 25 USD).

Cabezal de microscopio OLYMPUS BH3-5NRE-M con objetivos Usado

• Fabricante: Olympus

Mpn: BH3-5NRE-M | Número de pieza: BH3-5NRE-M | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa de transferencia bancaria de 25 USD).

Hitachi 560-5530 Relay PCB COL-CN2 S-9300 Microscopio Electrónico de Barrido funcionando

• Fabricante: Hitachi

Mpn: 560-5530 | Número de pieza: 560-5530

Anelva 912-7165 Bomba de ultravioleta de alto vacío Ion Ultra High Vacuum Pump JEOL JSM-6300F SEM de trabajo sobrante

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: 912-7165 | System/tool: Sistema de microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-6300F SEM | Número de pieza: 912-7165

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

JEOL AP002109-00 placa de PCB de procesador JSM-6300F SEM funcionando excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: AP002109-00 | Número de pieza: AP002109-00

Leitz FSA-WR Microscope Eyepiece Ergoplan Leica 572089

• Fabricante: Leitz

Mpn: 572089 | Número de pieza: 572089 | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa de transferencia bancaria de 25 USD).

GW Electrónica Tipo 43 Cámara de infrarrojos de cámara de inspección JEOL JSM-6300/6400F Usado en excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: Tipo 43 | Número de pieza: Tipo 43

JEOL TN Fuente de Alimentación de Alto Voltaje Ensamblaje JSM-6400F SEM Usado Funcionando

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: Fuente de Alto Voltaje | Número de pieza: Fuente de Alto Voltaje | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa de transferencia bancaria de ...

JEOL SM-40080 Unidad de escaneo Rotación PCB Tarjeta SEM JSM-6300/6400F en stock de ocasión

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: SM-40080 | Número de pieza: SM-40080

Rudolph Technologies F30 300mm Wafer Stage Optical Inspection Microscope Spare

• Fabricante: Rudolph

System/tool: Sistema de obleas Rudolph Technologies F30 de 300 mm | Mpn: Etapa de Wafer de 300mm

Nikon Precision BD Plan Apo 40/.080 210/0 Microscope Objective Working Surplus

• Fabricante: Nikon

Mpn: BD Plan Apo | Número de pieza: BD Plan Apo