Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Seúl, Corea del Sur

2011 HITACHI CG4000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: CG4000

Tamaño de la oblea: 300MM

2005 HITACHI S9380

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-9380

Tamaño de la oblea: 300MM

2000 HITACHI S-4700

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4700

2005 SONIX CUÁNTUM-350

• Fabricante: Sonix

2011 FEI Quanta 3D FEG

• Fabricante: FEI
• Modelo: QUANTA 3D FEG

2012 HITACHI CG4100

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: CG4100

Tamaño de la oblea: 300MM

2013 HITACHI RS6000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS-6000

Tamaño de la oblea: 300MM

2006 HITACHI S-4800

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4800

Tamaño de la oblea: 300MM

2012 LEICA EM TIC 3X

• Fabricante: Leica
• Modelo: EM TIC 3X

2005 Werth Messtechnik GmbH 3 DEMESION MEA

• Fabricante: Werth