Usado etc en Daegu (Taegu), Corea del Sur

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Proceso: Microscopio de inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

LEICA AG KENSINGTON 300901

• Fabricante: Leica
• Modelo: KENSINGTON 300901

Proceso: Microscopio de inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

APPILED MATERIALS JEOL JWS-7500E

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JWS-7500E

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Sistema de inspección de obleas | Envío: EXW

CARLZEISS AXIOTON

• Fabricante: CARLZEISS

Proceso: MICROSCOPIO DE INSPECCIÓN | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

EXPEDIUS

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: DUMMY CLN | Envío: EXW

NIDEC IM 15

• Fabricante: Nidec-Shimpo

Proceso: Inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

LUMONICS SUPERCLEAN

• Fabricante: LUMONICS

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Sistema de marcado láser | Envío: EXW

IWATANI LNS-1

• Fabricante: IWATANI

Detalles: Proveedor de nitrógeno líquido | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: IWATANI LNS-1 Proveedor de nitrógeno líquido

A&B WOS 2000

• Fabricante: A&B

Envío: EXW

1996 KARLSUSS PM8

• Fabricante: KARLSUSS

Envío: EXW

WAFER MASTERS SAO-203LP

• Fabricante: WAFER MASTERS

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Recocido TSV Cu | Envío: EXW

NEXTEST MAGNUM PV SCM

• Fabricante: SCM / SCMI

Tamaño de la oblea: 8, 12" | Envío: EXW

SECRON IP 300

• Fabricante: SECRON

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Prober | Envío: EXW

Lab Companion MS-33MH / MS-53MH

• Fabricante: Jeio Tech

Operación fácil de usar y modos de ajuste de tiempo que permiten varias formas de agitación de múltiples posiciones para satisfacer las demandas de los usuarios: punto único, punto múltiple, toda la fila, toda la...

Lab Companion MS-33MH / MS-53MH

• Fabricante: Jeio Tech

Operación fácil de usar y modos de ajuste de tiempo que permiten varias formas de agitación de múltiples posiciones para satisfacer las demandas de los usuarios: punto único, punto múltiple, toda la fila, toda la...