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- Vendedor de confianza
Tarjeta de interfaz Tachibana Tectron TVME1606-1T TVME1606 JEOL JWS-2000 SEM de trabajo
- Fabricante: Jeol
Mpn: TVME1606-1 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: TVME1606-1
$509 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101501-01 Tarjeta de Señal de Imagen PCB IMG SIG CONT MPB JWS-2000 SEM Funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101501-01 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101501-01
$509 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Hitachi 2AA31489 TARJETA PCB SHDIO S-9380 SEM Usado Funcionando
- Fabricante: Hitachi
Ci: 2 | System/tool: Hitachi S-9380 SEM | Mpn: 2AA31489 | Número de pieza: 2AA31489 | Sistema: Hitachi S-9380 Microscopio Electrónico de Barrido | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y tr...
$610 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101734-02 SWP GEN PB(1) PCB Card JWS-2000 Wafer Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Mpn: BP101734-02 | Número de pieza: BP101734-02
$909 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Panel de Control del Sistema de Vacío JEOL BP102105 PANEL VAC CP PB JWS-7555S SEM funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP102105 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: Panel de Control del Sistema de Vacío
$609 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Panel de Control de Vacío JEOL BP102002-00 BCD-PIN/SW PB JWS-7555S SEM Funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP102002-00 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: Panel de Control de Vacío de Etapa
$709 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL AP002132(02) CRT Display PCB DSPL(1)MPB JSM-6400F SEM Working Surplus
- Fabricante: Jeol
System/tool: Sistema de Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM-6400F SEM | Mpn: AP002132(02) | Número de pieza: AP002132(02)
$1,507 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
FEI Company 18240 Interfaz Analógica de Haz de Iones PCB Tarjeta IBOD XL 830 FIB-SEM Usado
- Fabricante: FEI
Mpn: 18240 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 18240
$654 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101498-03 GEN DE BARRIDO PB(2) TARJ. PCB JWS-2000 Revisión de obleas SEM de Escaneo WORKING
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101498-03 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101498-03
$809 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP102072-00 EOS ITF PB PCB Tarjeta JWS-2000 Revisión de Defectos de Placa de Semiconductor SEM en funcionamiento
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP102072-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102072-00
$709 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP102238-00 SEI CONT/MIX PB PCB Card JWS-7555S Revisión de wafers SEM de Trabajo
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP102238-00 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102238-00
$959 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101993-02 ACC/FIL PB Board PCB JWS-7555S Revisión de defectos de oblea SEM funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101993-02 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101993-02
$709 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101734-02 SWP GEN PB(1) PCB Card JWS-7555S Wafer Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101734-02 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101734-02
$909 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
FEI Company 4022.192.9204 Tarjeta PCB de procesador UDTB/N XL 830 FIB-SEM Usado Funcionando
- Fabricante: FEI
Mpn: 4022.192.9204 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.9204
$654 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Tarjeta PCB de red TVME3001-1 Tachibana Tectron TVME3001-1 TVME3001 JEOL JWS-2000 SEM funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: TVME3001-1 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: TVME3001-1
$609 USDAlbuquerque, Nuevo México
