Usado microscopia

JEOL BP102095-00 MAG BFR AMP PB PCB Tarjeta JWS-7555S Revisión de obleas SEM Sistema de Microscopio Electrónico de Barrido en funcionamiento

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP102095-00 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102095-00

Unico M280-7003 Accesorios: Fusible 250V 1,5

• Fabricante: Unico

Descripción general: El fusible Unico M280-7003 está específicamente diseñado para cumplir con los altos estándares de equipos médicos, ofreciendo un medio preciso y fiable de protección de circuitos. Está diseña...

Unico M250-7003 Accesorios: Fusible 250V 1.5

• Fabricante: Unico

FEI Company 18240 Interfaz Analógica de Haz de Iones PCB Tarjeta IBOD XL 830 FIB-SEM Usado

• Fabricante: FEI

Mpn: 18240 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 18240

FEI Company 4022.192.70141 Tarjeta de PCB de Procesador MDAC XL 830 DualBeam FIB-SEM Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.70141 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.70141

FEI Company 4022.192.9204 Tarjeta PCB de procesador UDTB/N XL 830 FIB-SEM Usado Funcionando

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.9204 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.9204

Phililps 4022.192.72182 Tarjeta PCB de relé procesador LNSA FEI Company XL 830 Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.72182 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.72182

JEOL AP002132(02) CRT Display PCB DSPL(1)MPB JSM-6400F SEM Working Surplus

• Fabricante: Jeol

System/tool: Sistema de Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM-6400F SEM | Mpn: AP002132(02) | Número de pieza: AP002132(02)

FEI Company 4022.192.70094 Tarjeta de PCB de Procesador HRDS 7009 XL 830 FIB-SEM Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.70094 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.70094 | Eprom: 4022.197.29622, CS-BIAO

FEI Company 4022.192.91343 Tarjeta PCB de Procesador DDCB XL 830 DualBeam FIB-SEM Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.91343 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.91343

JEOL MP003648-00 AC PB Relay Power Distribution Board PCB JEM-2010F TEM Usado

• Fabricante: Jeol

System/tool: JEOL JEM-2010F TEM Microscopio Electrónico de Transmisión | Mpn: MP003648-00 | Número de pieza: MP003648-00 | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias e...

FEI Company 4022.197.94765 Procesador PCB Tarjeta SCDR 4022.192.71114 XL 830 Usado

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.197.94765 | Pieza de la empresa fei: 4022.192.71114 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.197.94765

Viavi OLTS-85 (2325/35)

• Fabricante: JDSU - Viavi - Acterna

2325/31: Kit de prueba de pérdida óptica de modo único tier 1 | 2325/34: Kit de prueba de pérdida óptica de modo multimodo tier 1 | 2325/35: Kit de prueba de pérdida óptica cuádruple tier 1 | 2326/35: Kit de prue...