Building Filters
Tableros de control Hitachi con bastidor (de Hitachi SEM S-800 )
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S-800
Tipo de microscopio: Microscopio electrónico de barrido (SEM) | Mpn: S-800
$245 USDFayette, Alabama- $90 USDFayette, Alabama
- $60 USDFayette, Alabama
- Vendedor de confianza
FEI Company 4022.192.91343 Tarjeta PCB de Procesador DDCB XL 830 DualBeam FIB-SEM Usada
- Fabricante: FEI
Mpn: 4022.192.91343 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.91343
$654 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
FEI Company 4022.192.70141 Tarjeta de PCB de Procesador MDAC XL 830 DualBeam FIB-SEM Usada
- Fabricante: FEI
Mpn: 4022.192.70141 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.70141
$654 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
FEI Company 4022.192.70094 Tarjeta de PCB de Procesador HRDS 7009 XL 830 FIB-SEM Usada
- Fabricante: FEI
Mpn: 4022.192.70094 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.70094 | Eprom: 4022.197.29622, CS-BIAO
$654 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101760-00 Collector PB PCB Card JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101760-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101760-00
$1,009 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Tarjeta de interfaz Tachibana Tectron TVME1606-1T TVME1606 JEOL JWS-2000 SEM de trabajo
- Fabricante: Jeol
Mpn: TVME1606-1 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: TVME1606-1
$509 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL AP002132(02) CRT Display PCB DSPL(1)MPB JSM-6400F SEM Working Surplus
- Fabricante: Jeol
System/tool: Sistema de Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM-6400F SEM | Mpn: AP002132(02) | Número de pieza: AP002132(02)
$1,507 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101734-02 SWP GEN PB(1) PCB Card JWS-2000 Wafer Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Mpn: BP101734-02 | Número de pieza: BP101734-02
$909 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101501-01 Tarjeta de Señal de Imagen PCB IMG SIG CONT MPB JWS-2000 SEM Funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101501-01 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101501-01
$509 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
FEI Company 18240 Interfaz Analógica de Haz de Iones PCB Tarjeta IBOD XL 830 FIB-SEM Usado
- Fabricante: FEI
Mpn: 18240 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 18240
$654 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101498-03 GEN DE BARRIDO PB(2) TARJ. PCB JWS-2000 Revisión de obleas SEM de Escaneo WORKING
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101498-03 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101498-03
$809 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP102238-00 SEI CONT/MIX PB PCB Card JWS-7555S Revisión de wafers SEM de Trabajo
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP102238-00 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102238-00
$959 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP102072-00 EOS ITF PB PCB Tarjeta JWS-2000 Revisión de Defectos de Placa de Semiconductor SEM en funcionamiento
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP102072-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102072-00
$709 USDAlbuquerque, Nuevo México
