Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Seúl, Corea del Sur

2006 KLA-TENCOR ARCHER AIM+

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: ARCHER AIM

Tamaño de la oblea: 300MM

2012 LEICA EM TIC 3X

• Fabricante: Leica
• Modelo: EM TIC 3X

2005 Werth Messtechnik GmbH 3 DEMESION MEA

• Fabricante: Werth

Electroglas 4090U

• Fabricante: Electroglas
• Modelo: 4090U

Tamaño de la oblea: 200MM

2004 KLA Spectrum FX100

• Fabricante: KLA-Tencor

Tamaño de la oblea: 300MM

2011 AMAT SEMVISION G5

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamaño de la oblea: 300MM

2004 AMAT SEMVision G2

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamaño de la oblea: 300MM

2004 HITACHI S-9260A

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-9260A

Tamaño de la oblea: 200MM

2002 HITACHI S-9220

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-9220

Tamaño de la oblea: 200MM

2014 HITACHI S-5500

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5500