Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Japón

HORIBA, Ltd. Xtrology

• Fabricante: Horiba

Espesor de la película: Medición de espesor de película y calidad de la película, análisis de una sola capa o de varias capas | Propiedades ópticas: Medición de n (índice de refracción), k (coeficiente de extinci...

HORIBA, Ltd. PD10

• Fabricante: Horiba

Este producto está disponible en los siguientes países y territorios: China Alemania Irlanda Israel Italia Corea (del Sur) Malasia Singapur Taiwán Reino Unido Estados Unidos | Peso: Aprox. 950 kg | Vidrio: 5,0 μm...

HORIBA, Ltd. PD10-EX

• Fabricante: Horiba

Este producto está disponible en los siguientes países y territorios: China Alemania Irlanda Israel Italia Corea (del Sur) Malasia Singapur Taiwán Reino Unido Estados Unidos

OPM Series

H/w general: Sistema de carga de múltiples muestras | Etapa motorizada de 4 ejes (xy, bandeja, r): Etapa motorizada de 5 ejes (XY,Bandeja,R1,R2) | Elemento de medida: Longitud de onda en T(R)n%, T(R)% en n longit...

PLATO Serie

Vis: 375 nm, 405 nm, 532 nm | Nir: 980 nm, 1064 nm | Medición de arco: 10~1000um | Tamaño de la oblea: SEMI estándar 2”, 3”, 4”, 6”, 8”, 12” | Tipo de casete: Casete abierto, SMIF, FOUP | Identificación: Lector d...

Serie PyroSense

Resolución [°c]: 0.1 | Exactitud [°c]: ±1.0 | Longitud de onda [nm]: 950 ± 5 | Rango [%]: 0 ~ 100 | Resolución [%]: 0.1 | Exactitud [%]: ±1.0 | Exactitud de la tasa de crecimiento [%]: ±1.5 | Potencia [v]: CA 110...

MiPLATO-SiC

Scan method: Spiral scan with 1800 RPM rotation and linear motion | Laser: 20mW 355nm CW Laser * Beam size on surface : 2um diameter thru 50x objective lens | Detector: 4 PMTs, 1 Spectrometer | Stage: XY-axis Lin...

HORIBA, Ltd. RP-1

• Fabricante: Horiba

Caso aplicable: Nikon/Canon/SMIF POD/HORIBA | Rendimiento: Sopla simultáneamente las superficies de vidrio y pellicle para eliminar partículas aproximadamente durante 1 min. | Dimensiones: 1190(D) x 1150(W) x 152...