Usado Hgtech Metrología / Inspección (Semiconductores)

HGTECH Serie de medición del espesor de obleas Equipo de medición del espesor de obleas de semiconductores

• nuevo

• Fabricante: Hgtech

Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de la oblea; 4" , 6" | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Plataforma de movimiento: ...