Equipos de semiconductores » Metrología / Inspección (semiconductores) » Inspección de defectos » Corea del Sur

Buscar por Fabricante

Buscar por Provincia

Building Filters

12

Usado Inspección De Defectos en Corea del Sur

  • 2009 HITACHI RS4000T

    2009 HITACHI RS4000T

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

    Seúl, Corea del Sur
  • Hitachi, S-3000H, SEM (microscopio electrónico

    Hitachi, S-3000H, SEM (microscopio electrónico de barrido)

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: S-3000H

    Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: SEM (Microscopio electrónico de barrido) | Equipo: SEM (Microscopio electrónico de barrido)

    Suwon, Corea del Sur
  • 2006 HITACHI HD2300A

    2006 HITACHI HD2300A

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: HD-2300A

    Tamaño de la oblea: N/A | Proceso: Microscopio electrónico de transmisión de barrido (STEM) | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2011 HITACHI NB-5000

    2011 HITACHI NB-5000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: NB5000

    Tamaño de la oblea: N/A | Proceso: FIB Sem | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • HITACHI FB 2100

    HITACHI FB 2100

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: FB-2100

    Gyeonggi, Corea del Sur
  • 2013 HITACHI RS6000

    2013 HITACHI RS6000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-6000

    Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2010 HITACHI LS9000

    2010 HITACHI LS9000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: LS9000

    Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: REVISIÓN DE DEFECTOS SEM | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS-2700SE

    Tamaño de la oblea: 12" | Detalles: Inspección por haz E | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: HITACHI IS2700SE Inspección de vigas E

    Corea del Sur
  • 2003 HITACHI RS 4000

    2003 HITACHI RS 4000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Revisión de defectos Sem | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS-4000

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Revisión de defectos Sem | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS-3200SE

    Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

    Corea del Sur

Resumen

La metrología de semiconductores implica la medición y el análisis de obleas y dispositivos semiconductores. Esta categoría incluye herramientas y equipos utilizados para garantizar la precisión y exactitud de los procesos de fabricación de semiconductores. Estos instrumentos son vitales para el control de calidad, ayudando a detectar defectos y asegurando que los dispositivos cumplan con estrictos estándares industriales.

FAQ (PREGUNTAS MÁS FRECUENTES)

¿Qué factores debo considerar al comprar equipos de metrología de semiconductores?

Considere la precisión de medición, la resolución y la compatibilidad del equipo con sus procesos específicos de semiconductores. Evalúe los servicios de soporte del proveedor y la facilidad de integración del equipo en sus sistemas existentes.

¿Cómo puedo asegurar el envío seguro de equipos de metrología de semiconductores?

Utilice un servicio de envío especializado con experiencia en el manejo de equipos sensibles y de alta precisión. Asegúrese de que el equipo esté bien embalado con amortiguación adecuada e instrucciones de manejo.

¿Cuál es el programa de mantenimiento para equipos de metrología de semiconductores?

La calibración e inspección regular son esenciales. Siga las pautas del fabricante para el mantenimiento preventivo, incluida la limpieza de componentes ópticos y la verificación de actualizaciones de software. Mantenga un registro de todas las actividades de mantenimiento.