Usado Jeol JSM Microscopios

Anelva 912-7165 Bomba de ultravioleta de alto vacío Ion Ultra High Vacuum Pump JEOL JSM-6300F SEM de trabajo sobrante

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: 912-7165 | System/tool: Sistema de microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-6300F SEM | Número de pieza: 912-7165

JEOL AP002109-00 placa de PCB de procesador JSM-6300F SEM funcionando excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: AP002109-00 | Número de pieza: AP002109-00

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

JEOL TN Fuente de Alimentación de Alto Voltaje Ensamblaje JSM-6400F SEM Usado Funcionando

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: Fuente de Alto Voltaje | Número de pieza: Fuente de Alto Voltaje | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa de transferencia bancaria de ...

JEOL SM-40080 Unidad de escaneo Rotación PCB Tarjeta SEM JSM-6300/6400F en stock de ocasión

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: SM-40080 | Número de pieza: SM-40080

GW Electrónica Tipo 43 Cámara de infrarrojos de cámara de inspección JEOL JSM-6300/6400F Usado en excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: Tipo 43 | Número de pieza: Tipo 43

JEOL JSM-6300F SEM Ensamble de Columna Microscopio Electrónico de Barrido de Trabajo Excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Columna JSM-6300F

JEOL SM-45150 UHR Microscope Camera Polaroid 545i Film Holder JSM-6400F Working

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• Modelo: JSM-6400

Mpn: SM-45150 | Número de pieza: SM-45150 | Pieza de soporte de película polaroid n°: 545i

JEOL US124698 PCB Card JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope Working Spare

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: US124698 | Número de pieza: US124698

JEOL JSM 840A SEM System de Microscopio Electrónico de Barrido (Sin Panel de Control)

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

DETECTOR DE EVERHART THORNLEY SE PARA EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRINCHER JSM5900LV

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

JEOL JSM 840A SEM Microscopio Electrónico de Barrido Sy

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• Modelo: JSM

Número de objeto: AA00072606 | Nombre del objeto: JEOL JSM 840A SEM Microscopio Electrónico de Barrido Sy | Envío: 4-6 semanas

JEOL JSM 5900LV MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN BASE RAIL Y PARTES M2494

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