Usado microscopia

Jeol JSM-6400

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Tipo de lote: Subasta en línea

JEOL JEM-2100 JEM-2500 etc. Microscopio SEM Goniómetro Kit de clavijas de calibración SEG.

• Fabricante: Jeol

Tipo de microscopio: Microscopio electrónico de barrido (SEM) | Mpn: JEM2100

Anelva 912-7165 Bomba de ultravioleta de alto vacío Ion Ultra High Vacuum Pump JEOL JSM-6300F SEM de trabajo sobrante

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: 912-7165 | System/tool: Sistema de microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-6300F SEM | Número de pieza: 912-7165

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

JEOL AP002109-00 placa de PCB de procesador JSM-6300F SEM funcionando excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: AP002109-00 | Número de pieza: AP002109-00

GW Electrónica Tipo 43 Cámara de infrarrojos de cámara de inspección JEOL JSM-6300/6400F Usado en excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: Tipo 43 | Número de pieza: Tipo 43

JEOL SM-40080 Unidad de escaneo Rotación PCB Tarjeta SEM JSM-6300/6400F en stock de ocasión

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM-6400

Mpn: SM-40080 | Número de pieza: SM-40080

JEOL MP-94070 DETECTOR DE ELECTRONES MICROSCOPE T235599

• Fabricante: Jeol

JEOL JXA 8600 SUPERPROBE Microscopio Electrónico de Barrido

• Fabricante: Jeol

Tipo de lote: Subasta en línea

JEOL JEM-2100F Microscopio Electrónico de Transmisión Sistema (2009) TEM Laboratorio

• Fabricante: Jeol

JEOL Microscopio Binocular 10x Ensamblaje JEM-2010F Sistema de Microscopía TEM Usado

• Fabricante: Jeol

System/tool: TEM de transmisión de JEOL JEM-2010F | Mpn: Microscopio Binocular 10x | Número de pieza: Microscopio Binocular 10x | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias banc...

JEOL JSM-6300F SEM Ensamble de Columna Microscopio Electrónico de Barrido de Trabajo Excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Columna JSM-6300F

JEOL EM-24015BU TEM Microscopio Electrónico de Barrido Ensamblaje de Lentes Ópticas JEM-2010F Usado

• Fabricante: Jeol

System/tool: TEM de transmisión de JEOL JEM-2010F | Mpn: EM-24015BU | Número de pieza: EM-24015BU | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa d...

DETECTOR DE EVERHART THORNLEY SE PARA EL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRINCHER JSM5900LV

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM