Usado scanning electron microscope

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

JEOL US124698 PCB Card JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope Working Spare

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: US124698 | Número de pieza: US124698

JEOL JSM-6300F SEM Ensamble de Columna Microscopio Electrónico de Barrido de Trabajo Excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Columna JSM-6300F

JEOL PART FROM JSM 5900 LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE T235602

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

JEOL PART FROM JSM 5900 LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE T235601

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM