HGTECH Serie de detección de defectos Equipo de detección de defectos en sustratos de semiconductores
nuevo
- Fabricante: Hgtech
Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de oblea; Estándar 4", 6" (ampliable 4"- 8") | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Pl...
Wuhan, China