Usado tester en México

JEOL JSM-6100 Scanning Electron Microscope (SEM) | For Parts | As-Is | Untested

• usado

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Jeol JSM-6100 | Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)

• usado

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Detector de electrones secundarios: Integrado | Marca: Jeol | Modelo: JSM-6100 | Resolución máxima: Hasta 16 nm | Rango de aumento: 10x a 800,000x | Detector de electrones retrodispersados: Integrado | Etapa de m...