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Usado Cd Sem

Resumen

CD‑SEM (Microscopía Electrónica de Barrido para Dimensión Crítica) es una herramienta de inspección de alta precisión usada en metrología de semiconductores para medir anchuras de línea, espacios y perfiles en obleas y máscaras. Combina imagen electrónica con software avanzado para mediciones CD a escala nanométrica, control de overlay y análisis de defectos. Se usa en fábricas y I+D y requiere entorno controlado, calibración regular y mantenimiento especializado.

FAQ (PREGUNTAS MÁS FRECUENTES)

¿Qué debo comprobar al comprar un CD‑SEM usado?

Revise registros de mantenimiento y vacío, estado de la columna y detectores, licencias de software, certificados de calibración, disponibilidad de repuestos y mejoras realizadas.

¿Qué requisitos del sitio son necesarios antes de la instalación?

Asegure la clase de sala limpia adecuada, aislamiento anti‑vibraciones, alimentación eléctrica estable y puesta a tierra, refrigeración/air‑conditioning, conexiones de aire/gas y carga de suelo adecuada.

¿Cómo debe enviarse un CD‑SEM para evitar daños?

Con transporte especializado que incluya bloqueo de columna, control climático, sensores de choque, embalaje reforzado y planificación de desembalaje y cualificación in situ.

¿Qué mantenimiento rutinario requiere un CD‑SEM?

Mantenimiento de bombas de vacío, comprobación/cambio de la fuente electrónica, limpieza de detectores, calibración del escenario, actualizaciones de software y mantenimiento preventivo por técnicos.

¿La calibración y trazabilidad suelen incluirse en la compra?

No siempre; solicite certificados de calibración recientes o programe calibración con el fabricante o un laboratorio acreditado y establezca verificaciones periódicas.