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Termina Sep 9th, 15:00 CDT
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Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Corea del Sur

  • RODOLPH Meta Pulse 300

    RODOLPH Meta Pulse 300

    • usado

    • Fabricante: RODOLPH

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • J.A Woollam VUV-VASE

    J.A Woollam VUV-VASE

    • usado

    • Fabricante: J.A Woollam

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Elipsómetro | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2001 HITACHI S4700-I

    2001 HITACHI S4700-I

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: S 4700

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Microscopio electrónico de barrido | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • RUDOLPH S3000A

    RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Elipsometría láser de haz concentrado | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • LINDA IN5-HI

    LINDA IN5-HI

    • usado

    • Fabricante: LINDA

    Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • RUDOLPH FE-3

    RUDOLPH FE-3

    • usado

    • Fabricante: Rudolph

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Elipsómetro de enfoque | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2008 RAYTEX RXW-800

    2008 RAYTEX RXW-800

    • usado

    • Fabricante: RAYTEX

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: ESCÁNER DE BORDES | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2010 Kobelco SBW-330

    2010 Kobelco SBW-330

    • usado

    • Fabricante: Kobelco
    • Modelo: SBW-330

    Detalles: Pruebas y metrología de obleas | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: SBW-330 Ensayo y metrología de obleas

    Corea del Sur
  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • usado

    • Fabricante: Valley
    • Modelo: JVX6200I

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Metrología de rayos X (Reflectividad de rayos X) | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 1997 LG SEMICON CLS-9002

    1997 LG SEMICON CLS-9002

    • usado

    • Fabricante: LG SEMICON

    Proceso: 3ª INSPECCIÓN ÓPTICA | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Inspección de máscaras y obleas | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Inspección de máscaras y obleas | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • usado

    • Fabricante: Jeol
    • Modelo: JWS-7515

    Detalles: Insepción de obleas | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: JEOL JWS-7515 Inspección de obleas

    Corea del Sur
  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamaño de la oblea: 12 | Envío: EXW | Proceso: Elipsometría láser de haz concentrado

    Corea del Sur
  • 2010 RUDOLPH S3000S

    2010 RUDOLPH S3000S

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000S

    Tamaño de la oblea: 12 | Envío: EXW

    Corea del Sur
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Resumen

La metrología de semiconductores implica la medición y el análisis de obleas y dispositivos semiconductores. Esta categoría incluye herramientas y equipos utilizados para garantizar la precisión y exactitud de los procesos de fabricación de semiconductores. Estos instrumentos son vitales para el control de calidad, ayudando a detectar defectos y asegurando que los dispositivos cumplan con estrictos estándares industriales.

FAQ (PREGUNTAS MÁS FRECUENTES)

¿Qué factores debo considerar al comprar equipos de metrología de semiconductores?

Considere la precisión de medición, la resolución y la compatibilidad del equipo con sus procesos específicos de semiconductores. Evalúe los servicios de soporte del proveedor y la facilidad de integración del equipo en sus sistemas existentes.

¿Cómo puedo asegurar el envío seguro de equipos de metrología de semiconductores?

Utilice un servicio de envío especializado con experiencia en el manejo de equipos sensibles y de alta precisión. Asegúrese de que el equipo esté bien embalado con amortiguación adecuada e instrucciones de manejo.

¿Cuál es el programa de mantenimiento para equipos de metrología de semiconductores?

La calibración e inspección regular son esenciales. Siga las pautas del fabricante para el mantenimiento preventivo, incluida la limpieza de componentes ópticos y la verificación de actualizaciones de software. Mantenga un registro de todas las actividades de mantenimiento.