Usado transport systeme

Invitrogen iBright FL1500 Imaging System para aplicaciones de blotting y gel

• Fabricante: Invitrogen

Dimensión: 27.0in x 15.0in x 23.0in | Tipo de envío: Transporte | Fabricación: No aplica | Voltaje / hercios: 100-240V / 50Hz/60Hz | Tensión: 100-240V | Hertz: 50Hz/60Hz | Imperial: 32.4 lb x 18.0 lb x 27.6 lb | ...

Thermo Custom Vision System UV-Camera PoE In-Sight 8505 512MB Sensor 5MP

• Fabricante: Thermo Fisher Scientific

Dimensión: 24.0in x 24.0in x 25.0in | Tipo de envío: Transporte | Fabricación: No aplica | Voltaje / hercios: 120V / 50Hz/60Hz | Resolución de imagen: 2448 x 2048 | Tasa de adquisición: Monocromo 32 fps, Color 17...

Sistema de Visión Thermo Custom Combo QC con Cámara UV-Instalada 5MP

Dimensión: 25.0in x 25.0in x 25.0in | Tipo de envío: Transporte | Fabricación: No aplica | Voltaje / hercios: 120V / 50Hz/60Hz | Tensión de funcionamiento: 120V | Frecuencia: 50Hz/60Hz | Imperial: 30.0 lb x 30.0 ...

Carl Zeiss 45 74 92 Microscope System AF Controller 457492 Working Surplus

• Fabricante: Zeiss

Mpn: 45 74 92 | Número de pieza: 45 74 92

Thermo Fisher Tecnai G2 Spirit Microscopio Electrónico de Transmisión TEM System

• Fabricante: Thermo Fisher Scientific

Orbot Instruments WF-PDI Optical Head Microscope WF720 200mm AMAT Working

• Fabricante: Amat

Sensor de keyence parte no: FS2-60 | System/tool: Orbot Instruments WF720 sistema de inspección de obleas de 200 mm | Mpn: Cabezal óptico WF-PDI | Número de pieza pcb orbot: 710-34041-DD | Objective leica wetzlar...

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

Anelva 912-7165 Bomba de ultravioleta de alto vacío Ion Ultra High Vacuum Pump JEOL JSM-6300F SEM de trabajo sobrante

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: 912-7165 | System/tool: Sistema de microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-6300F SEM | Número de pieza: 912-7165

Rudolph Technologies F30 300mm Wafer Stage Optical Inspection Microscope Spare

• Fabricante: Rudolph

System/tool: Sistema de obleas Rudolph Technologies F30 de 300 mm | Mpn: Etapa de Wafer de 300mm

JEOL JSM-6300F SEM Ensamble de Columna Microscopio Electrónico de Barrido de Trabajo Excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Columna JSM-6300F

JEOL EM-07130 Microscope Controller fasTEM Panel TEM JEM-2010F Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: EM-07130 | System/tool: TEM de transmisión de JEOL JEM-2010F | Número de pieza: EM-07130

Leica 036-085.021 Microscopio Iluminador Vertical AMAT Orbot No Probado Tal Cual

• Fabricante: Leica

System/tool: AMAT Applied Materials Orbot WF 736 DUO Sistema de Obleas de 200 mm | Mpn: 036-085.021 | Número de pieza pcb orbot: WF710-34711-DD | Número de pieza: 036-085.021

Montaje de Microscopio Ultrapointe 1000 200 mm Olympus BH3-5NRE-M BH2-HLSH Funcionando

• Fabricante: Olympus

Mpn: Ensambles de Microscopio | System/tool: Ultrapointe 1000 Sistema de Imagen por Láser de 200 mm | Número de pieza: 002030 | Pieza de torreta motorizada olympus número de pieza: BH3-5NRE-M | Número de pieza de...

Cabezal de inspección de precisión J-MAR 300 Montura de microscopio Nikon Hitachi funcionando

• Fabricante: J-Mar Precision Systems

Nº de pieza nikon: 50W AD | System/tool: Sistemas J-MAR Precision 300 Microscopio Automatizado | Mpn: 300 Cabezal de inspección | Pieza de cámara hitachi no.: KP-M22AN | Lente de densidad óptica 0.3 no.: 30933 | ...

Conjunto de Microscopio Ultrapointe 500 Ensamblaje 200 mm Olympus BH3-5NRE-M U-PMTVC En funcionamiento

• Fabricante: Olympus

System/tool: Ultrapointe 500 200mm Sistema de imágenes láser | Mpn: Ensambles de Microscopio | Número de pieza: 002030 | Pieza de torreta motorizada olympus número de pieza: BH3-5NRE-M | Número de pieza de fuente...