Usado Herramientas De Medición en Alemania

Mesa de microscopio Leitz Leica 563011 Medida de escenario Microscopio Graticule Micrómetro 1mm=100Div.

• Fabricante: Leitz

Peso de envío: 5,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 MM/ W 0,160 MM 160 micrómetros 00521626 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 MM/ W 0,180 MM 180 micrómetros 00521634 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Etapa de micrómetro de eje múltiple Mesa de micrómetro Mesa de posicionamiento Miniatura

Peso de envío: 10,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 mm/ W 0,224 mm 224 micrómetros 00520887 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 mm/ W 0,212 mm 212 micrómetros 00522985 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 MM/ W 0,150 MM 150 micrómetros 00522644 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 mm/ W 0,140 mm 140 micrómetros 00521936 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 mm/ W 0,125 mm 125 micrómetros 00521602 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

Haver & Boecker analysesieve 200X32 mm /W 0,106 mm 106 micrómetros 00522637 Retsch

• Fabricante: Haver & Boecker

Peso de envío: 15,00 kg

2013 Heidenhain ERN 430

• Fabricante: Heidenhain

Actualizar: último el 30 de julio de 2021

Placa métrica de granito Hahn&Kolb

• Fabricante: Hahn+Kolb

2018 JENOPTIK HOMMEL ETAMIC T8000 Wavemove

• Fabricante: Jenoptik

Rango de medición (longitud transversal): 120 mm | Resolución: 0,1 µm | Velocidad de rastreo: 0,1 – 3 mm/seg | Velocidad máxima de posicionamiento: 3 mm/sec | Exactitud de planitud: ≤0,4 µm/120 mm | Babosa: jenop...