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SAKI BF-10Z 2D AOI 2016
- Fabricante: Saki
Lugar de origen: China | Especificaciones: Estándar Carril único | Vintage: 2016 | Cantidad mínima de pedido: 1 unidad | Detalles de embalaje: Caja de madera | Tiempo de entrega: 1-5 días laborables | Condiciones...
Shenzhen, China
Saki BF-3DI-Z1 3D AOI 2017
- Fabricante: SAKI
Lugar de origen: China | Especificaciones: Carril único | Vintage: 2017 | Cantidad mínima de pedido: 1 unidad | Detalles de embalaje: Caja de madera | Tiempo de entrega: 1-5 días laborables | Condiciones de pago:...
Shenzhen, China
Saki BF-3DI-L1 3D AOI 2018
- Fabricante: SAKI
Lugar de origen: China | Especificaciones: Carril único | Vintage: 2018 | Cantidad mínima de pedido: 1 unidad | Detalles de embalaje: Caja de madera | Tiempo de entrega: 1-5 días laborables | Condiciones de pago:...
Shenzhen, China
PARMI XCEED XL 3D AOI 2016
- Fabricante: Parmi
Lugar de origen: China | Especificaciones: Carril único | Vintage: 2014 | Cantidad mínima de pedido: 1 unidad | Detalles de embalaje: Caja de madera | Tiempo de entrega: 1-5 días laborables | Condiciones de pago:...
Shenzhen, China
MIRTEC MV-9 3D EN LÍNEA AOI 2014
- Fabricante: Mirtec
- Modelo: MV-9
Lugar de origen: China | Especificaciones: Carril único | Vintage: 2014 | Cantidad mínima de pedido: 1 unidad | Detalles de embalaje: Caja de madera | Tiempo de entrega: 1-5 días laborables | Condiciones de pago:...
Shenzhen, China
Shenzhen, ChinaMáquina de Inspección 2D AOI Inpex 200
- Fabricante: GTSMT
Cámara: Cámara CCD a color: 12/15/20 μm | Lámpara de jaula: luz estroboscópica LED RGB en anillo de jaula | Tiempo por imagen: <170ms | Defectos de los componentes: Faltante, desalineado, sesgado, lápida, cartel,...
Guangdong, China
Saki Bf-3di-D1 3D AOI 2018
- Fabricante: SAKI
Lugar de origen: China | Especificaciones: Carril único | Vintage: 2017 | Cantidad mínima de pedido: 1 unidad | Detalles de embalaje: Caja de madera | Tiempo de entrega: 1-5 días laborables | Condiciones de pago:...
Shenzhen, China
HGTECH Serie de detección de defectos Equipo de detección de defectos en sustratos de semiconductores
- Fabricante: Hgtech
Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de oblea; Estándar 4", 6" (ampliable 4"- 8") | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Pl...
Wuhan, China
Serie de detección de defectos en obleas HGTECH Equipo de detección de defectos en obleas de semiconductores
- Fabricante: Hgtech
Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de la oblea; 4", 6" (marco de hierro con película azul) | Número de cajas: 2 pcs | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Platafo...
Wuhan, China
