Usado plane

Crest Optics Deep SIM Super Resolution independiente

• Fabricante: SIM

Técnica de imagen: Microscopía de Iluminación Estructurada (SIM) | Resolución lateral: ~100 nm | Resolución axial: ~300 nm | Velocidad de adquisición: 13 fps a 1024x1024 píxeles | Longitud de onda de excitación: ...