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Leica INM 20
- Fabricante: Leica
- Modelo: INM 20
Aplicación: Inspección visual y medición CD, OD, Pitch.. | ▲ piezas oculares: X10 | ▲ lente: X2.5, X5, X10, X50, X100 | ▲ tamaño de trabajo: 150 x 150 mm | ▲ etapa de medición (x,y): Min 0.1 micra ~ | ▲ vintage: ...
Corea del Sur
DS Semicon Co., Ltd. DLM01
- Fabricante: DS Semicon
Aplicación: Monitoreo, Captura de imágenes/Medición | ▲ objeto: X0.7 ~ X4.5 (Ojo de pez excluido X10)
Corea del Sur
DS Precision MF-501
- Fabricante: DS Semicon
Aplicación: Medición de altura | Lectura mínima: 0,1 μm (se puede cambiar a 0,51 μm o 11 μm) | Rango de medición: 50 mm | Fuente de luz: LED | Velocidad de respuesta: Máx. 500 mm/seg | Transversal: 65-125 gf | Ha...
Corea del Sur
Corea del Sur
Seúl, Corea del Sur
Yongin, Corea del Sur
Yongin, Corea del Sur
2021 KLA, AFS-3220, Medición de planitud
- Fabricante: KLA-Tencor
Número de serie: AMS101 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Medición de la planitud | Equipo: Medición de la planitud | Descripción: Oblea 300mm, Espesor de escaneado: precisión 0,25um
Suwon, Corea del Sur
Hitachi, S-3000H, SEM (microscopio electrónico de barrido)
- Fabricante: Hitachi
- Modelo: S-3000H
Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: SEM (Microscopio electrónico de barrido) | Equipo: SEM (Microscopio electrónico de barrido)
Suwon, Corea del Sur
1999 KLA, AFS-3220, Medición de planitud
- Fabricante: KLA-Tencor
Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Medición de la planitud | Equipo: Medición de la planitud | Descripción: Oblea 300mm, Espesor de escaneado: precisión 0,25um
Suwon, Corea del Sur
KLA TENCOR, P-10, Perfilómetro de superficie (Windows DOS)
- Fabricante: KLA-Tencor
- Modelo: P-10
Número de serie: 03970318 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Perfilómetro de superficie (Windows DOS) | Equipo: Perfilómetro de superficie | Descripción: Windows DOS
Suwon, Corea del Sur
Yongin, Corea del Sur
Yongin, Corea del Sur
Yongin, Corea del Sur
Yongin, Corea del Sur