Usado Microscopios en Corea del Sur

2006 PSIA INC, XE-120, microscopio de sonda de barrido

• Fabricante: PSIA INC

Número de serie: BC77600019 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Microscopio de sonda de barrido | Equipo: Microscopio de sonda de barrido | Descripción: Alcance de exploración 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A

2004 OLYMPUS, CKX41SF, Microscopio de contraste de fases invertido

• Fabricante: Olympus
• Modelo: CKX41SF

Número de serie: 4L17148 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Microscopio de contraste de fases invertido | Equipo: Microscopio de contraste de fases invertido | Descripción: 220-240V, 0,85/0,45A, 50/60Hz

2011 Nanoscope, NS-3000, Microscopio confocal 3D

• Fabricante: Nanoscope

Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Microscopio confocal 3D | Equipo: Microscopio confocal 3D | Descripción: Aumento 100x, rango de zoom óptico 1~5x

2010 Park Systems, XE-150, AFM (Microscopio de Fuerza Atómica)

• Fabricante: Park Systems

Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: AFM (Microscopio de fuerza atómica) | Equipo: AFM (Microscopio de fuerza atómica)

1996 HITACHI S-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

1999 HITACHI S-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

LEICA MZ6

• Fabricante: Leica
• Modelo: MZ6

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

1996 HITACHI S-4160

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4160

Tamaño (mm): 200mm

1996 HITACHI S-4160

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4160

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

2000 HITACHI S-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

1994 HITACHI S-5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

LEICA LEICA INM20

• Fabricante: Leica
• Modelo: INM20

KEYENCE KEYENCE VH-8000

• Fabricante: Keyence
• Modelo: VH-8000

Olympus AL110-LMB12

• Fabricante: Olympus

Keyence VH-8000

• Fabricante: Keyence
• Modelo: VH-8000