Usado Metrología / Inspección (Semiconductores)

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL METAL | Envío: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

KLA TENCOR P-15

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

HGTECH Serie de medición del espesor de obleas Equipo de medición del espesor de obleas de semiconductores

• nuevo

• Fabricante: Hgtech

Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de la oblea; 4" , 6" | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Plataforma de movimiento: ...